Condition Monitoring of Rotating Diodes in Synchronous Machines Through the Exciter Stray Flux Analysis

  1. Tian, P.
  2. Guerrero, J.M.
  3. Platero, C.A.
  4. Lee, S.B.
  5. Gyftakis, K.N.
  6. Antonino-Daviu, J.
Revista:
IEEE Transactions on Industry Applications

ISSN: 1939-9367,  0093-9994

Año de publicación: 2023

Volumen: 59

Número: 3

Páginas: 3175-3185

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1109/TIA.2023.3234934 GOOGLE SCHOLAR
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