Condition Monitoring of Rotating Diodes in Synchronous Machines Through the Exciter Stray Flux Analysis

  1. Tian, P.
  2. Guerrero, J.M.
  3. Platero, C.A.
  4. Lee, S.B.
  5. Gyftakis, K.N.
  6. Antonino-Daviu, J.
Revista:
IEEE Transactions on Industry Applications

ISSN: 1939-9367,  0093-9994

Ano de publicación: 2023

Volume: 59

Número: 3

Páxinas: 3175-3185

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/TIA.2023.3234934 GOOGLE SCHOLAR
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