Condition Monitoring of Rotating Diodes in Synchronous Machines Through the Exciter Stray Flux Analysis

  1. Tian, P.
  2. Guerrero, J.M.
  3. Platero, C.A.
  4. Lee, S.B.
  5. Gyftakis, K.N.
  6. Antonino-Daviu, J.
Revista:
IEEE Transactions on Industry Applications

ISSN: 1939-9367,  0093-9994

Any de publicació: 2023

Volum: 59

Número: 3

Pàgines: 3175-3185

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1109/TIA.2023.3234934 GOOGLE SCHOLAR
Font de les dades: Scopus