Condition Monitoring of Rotating Diodes in Synchronous Machines Through the Exciter Stray Flux Analysis

  1. Tian, P.
  2. Guerrero, J.M.
  3. Platero, C.A.
  4. Lee, S.B.
  5. Gyftakis, K.N.
  6. Antonino-Daviu, J.
Zeitschrift:
IEEE Transactions on Industry Applications

ISSN: 1939-9367,  0093-9994

Datum der Publikation: 2023

Ausgabe: 59

Nummer: 3

Seiten: 3175-3185

Art: Konferenz-Beitrag

DOI: 10.1109/TIA.2023.3234934 GOOGLE SCHOLAR
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