Analytical identification of the calibration matrices using the two plane model

  1. Izaguirre, A.
  2. Pu, P.
  3. Summers, J.
Revista:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

Año de publicación: 1986

Volumen: 635

Páginas: 327-332

Tipo: Artículo

DOI: 10.1117/12.964146 GOOGLE SCHOLAR
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