Analytical identification of the calibration matrices using the two plane model

  1. Izaguirre, A.
  2. Pu, P.
  3. Summers, J.
Zeitschrift:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 1996-756X,  0277-786X

Datum der Publikation: 1986

Ausgabe: 635

Seiten: 327-332

Art: Artikel

DOI: 10.1117/12.964146 GOOGLE SCHOLAR
Datenquelle: Scopus