Variability management in embedded product line analysis

  1. Belategi, L.
  2. Sagardui, G.
  3. Etxeberria, L.
Actas:
Proceedings - 2nd International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle, VALID 2010

ISBN: 9780769541464

Ano de publicación: 2010

Páxinas: 69-74

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1109/VALID.2010.16 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus