Variability management in embedded product line analysis

  1. Belategi, L.
  2. Sagardui, G.
  3. Etxeberria, L.
Aktak:
Proceedings - 2nd International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle, VALID 2010

ISBN: 9780769541464

Argitalpen urtea: 2010

Orrialdeak: 69-74

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.1109/VALID.2010.16 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus