Multi-Metrics Approach for Security, Privacy and Dependability in Embedded Systems
- Garitano, I.
- Fayyad, S.
- Noll, J.
ISSN: 1572-834X, 0929-6212
Argitalpen urtea: 2015
Alea: 81
Zenbakia: 4
Orrialdeak: 1359-1376
Mota: Artikulua
ISSN: 1572-834X, 0929-6212
Argitalpen urtea: 2015
Alea: 81
Zenbakia: 4
Orrialdeak: 1359-1376
Mota: Artikulua