Multi-Metrics Approach for Security, Privacy and Dependability in Embedded Systems
- Garitano, I.
- Fayyad, S.
- Noll, J.
ISSN: 1572-834X, 0929-6212
Datum der Publikation: 2015
Ausgabe: 81
Nummer: 4
Seiten: 1359-1376
Art: Artikel
ISSN: 1572-834X, 0929-6212
Datum der Publikation: 2015
Ausgabe: 81
Nummer: 4
Seiten: 1359-1376
Art: Artikel