Test control algorithms for the validation of cyber-physical systems product lines

  1. Arrieta, A.
  2. Sagardui, G.
  3. Etxeberria, L.
Actas:
ACM International Conference Proceeding Series

ISBN: 9781450336130

Año de publicación: 2015

Volumen: 20-24-July-2015

Páginas: 273-282

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1145/2791060.2791095 GOOGLE SCHOLAR

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Fuente de los datos: Scopus