Test control algorithms for the validation of cyber-physical systems product lines

  1. Arrieta, A.
  2. Sagardui, G.
  3. Etxeberria, L.
Aktak:
ACM International Conference Proceeding Series

ISBN: 9781450336130

Argitalpen urtea: 2015

Alea: 20-24-July-2015

Orrialdeak: 273-282

Mota: Biltzar ekarpena

DOI: 10.1145/2791060.2791095 GOOGLE SCHOLAR

Garapen Iraunkorreko Helburuak

Datuen iturria: Scopus