Test control algorithms for the validation of cyber-physical systems product lines

  1. Arrieta, A.
  2. Sagardui, G.
  3. Etxeberria, L.
Actas:
ACM International Conference Proceeding Series

ISBN: 9781450336130

Ano de publicación: 2015

Volume: 20-24-July-2015

Páxinas: 273-282

Tipo: Achega congreso

DOI: 10.1145/2791060.2791095 GOOGLE SCHOLAR

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable

Fonte de datos: Scopus