Ikerketa eremua
1GEP Sistema industrialetarako sistema txertatuak eta sistema inteligenteak
Artikuluak (1) Ikertzaileren baten partaidetza izan duten argitalpenak
1986
-
Analytical identification of the calibration matrices using the two plane model
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering, Vol. 635, pp. 327-332