A method to extract lumped thermal networks of capacitors for reliability oriented design

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Revista:
Microelectronics Reliability

ISSN: 0026-2714

Año de publicación: 2020

Volumen: 114

Tipo: Artículo

DOI: 10.1016/J.MICROREL.2020.113737 GOOGLE SCHOLAR lock_openeBiltegia editor

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