Deflectometric data segmentation for surface inspection: A fully convolutional neural network approach

  1. Maestro-Watson, D.
  2. Balzategui, J.
  3. Eciolaza, L.
  4. Arana-Arexolaleiba, N.
Revista:
Journal of Electronic Imaging

ISSN: 1560-229X,  1017-9909

Any de publicació: 2020

Volum: 29

Número: 4

Tipus: Article

DOI: 10.1117/1.JEI.29.4.041007 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus