Gotham Testbed: A Reproducible IoT Testbed for Security Experiments and Dataset Generation

  1. Saez-De-Camara, X.
  2. Flores, J.L.
  3. Arellano, C.
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Revue:
IEEE Transactions on Dependable and Secure Computing

ISSN: 1941-0018,  1545-5971

Année de publication: 2024

Volumen: 21

Número: 1

Pages: 186-203

Type: Article

DOI: 10.1109/TDSC.2023.3247166 GOOGLE SCHOLAR lock_openAccès ouvert editor

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