Simple and Affordable Method for Fast Transient Measurements of SiC Devices

  1. Garrido, D.
  2. Baraia-Etxaburu, I.
  3. Arza, J.
  4. Barrenetxea, M.
Revista:
IEEE Transactions on Power Electronics

ISSN: 1941-0107 0885-8993

Ano de publicación: 2020

Volume: 35

Número: 3

Páxinas: 2933-2942

Tipo: Artigo

DOI: 10.1109/TPEL.2019.2924358 GOOGLE SCHOLAR lock_openeBiltegia editor

Obxectivos de Desenvolvemento Sustentable